Nanoscope Analysis(AFM數據離線分析軟件)
詳情介紹
在實驗室做研究的各位用戶一定需要一款軟件幫助分析各種數據,尤其是一些做秘密研究的更是不能夠在有網絡的情況下使用,這款nanoscope analysis就是非常不錯的AFM離線數據分析軟件,如果是一位實驗室工作人員,那么一定知道AFM是什么,如果你是不小心點進來的那么小編告訴你,這就是原子力顯微鏡,是眾多現代實驗室必備的一個東西。而我們的實驗人員,可以將顯微鏡拍攝下來的圖片使用我們的軟件打開,然后用戶就可以使用nanoscope analysis的各種工具和功能對各種東西進行分析,對于平面狀態(tài)下無法看清的東西,你還可以生成三維圖片進行查看,更清晰更容易看清顯微下的各種物質和細菌等等,有需要的小伙伴快快下載體驗吧!
分析函數關系到分析在實時模式中捕獲的圖像的表面行為。這些命令稱為圖像處理或分析命令。這些命令包含用于分析、修改和存儲收集到的數據的視圖、選項和配置。分析可以是自動化的(也可以是自動程序)或者手工完成。一般來說,分析命令提供了量化樣品表面特性的方法
2、二維圖像
二維圖像分析以二維的角度顯示所選圖像的顏色編碼高度信息。二維圖像分析是對納米范圍分析的默認分析,當圖像最初被打開時,它總是在二維圖像中呈現。
3、軸承的分析
軸承分析提供了一種繪制和分析樣品表面高度分布的方法。軸承分析可應用于整個圖像,或對圖像的選定區(qū)域,使用橡膠帶箱。此外,選擇區(qū)域內的區(qū)域可以通過使用“停止帶”來移除分析中的多余數據。
4、深度
為了分析特征的深度,你有眾多的選擇來測量不同高度的兩個主要特征之間的高度差。深度分析主要是為自動比較兩個相似的樣本站點的特征深度而設計的(例如,在分析大量相同硅晶片的腐蝕深度時)。
Nanoscope Analysis可以將從掃描探針顯微鏡獲取的數據轉換為高分辨率的表面拓撲圖像。這些圖像可以顯示樣品表面的形貌和拓撲結構。
2、原子分辨成像
該軟件可以實現原子級分辨率的成像,使研究人員能夠觀察和分析納米尺度上的原子排列和表面結構。
3、表面力譜學
Nanoscope Analysis還可以進行表面力譜學分析,通過測量和分析掃描探針顯微鏡在樣品表面施加的力,來研究材料的力學性質和表面力學行為。
4、電學特性分析
該軟件還可以用于電學特性的研究,包括電導率、電容和電勢分布等相關參數的測量和分析。
Nanoscope Analysis功能介紹
1、分析功能分析函數關系到分析在實時模式中捕獲的圖像的表面行為。這些命令稱為圖像處理或分析命令。這些命令包含用于分析、修改和存儲收集到的數據的視圖、選項和配置。分析可以是自動化的(也可以是自動程序)或者手工完成。一般來說,分析命令提供了量化樣品表面特性的方法
2、二維圖像
二維圖像分析以二維的角度顯示所選圖像的顏色編碼高度信息。二維圖像分析是對納米范圍分析的默認分析,當圖像最初被打開時,它總是在二維圖像中呈現。
3、軸承的分析
軸承分析提供了一種繪制和分析樣品表面高度分布的方法。軸承分析可應用于整個圖像,或對圖像的選定區(qū)域,使用橡膠帶箱。此外,選擇區(qū)域內的區(qū)域可以通過使用“停止帶”來移除分析中的多余數據。
4、深度
為了分析特征的深度,你有眾多的選擇來測量不同高度的兩個主要特征之間的高度差。深度分析主要是為自動比較兩個相似的樣本站點的特征深度而設計的(例如,在分析大量相同硅晶片的腐蝕深度時)。
軟件亮點
1、表面拓撲圖像重建Nanoscope Analysis可以將從掃描探針顯微鏡獲取的數據轉換為高分辨率的表面拓撲圖像。這些圖像可以顯示樣品表面的形貌和拓撲結構。
2、原子分辨成像
該軟件可以實現原子級分辨率的成像,使研究人員能夠觀察和分析納米尺度上的原子排列和表面結構。
3、表面力譜學
Nanoscope Analysis還可以進行表面力譜學分析,通過測量和分析掃描探針顯微鏡在樣品表面施加的力,來研究材料的力學性質和表面力學行為。
4、電學特性分析
該軟件還可以用于電學特性的研究,包括電導率、電容和電勢分布等相關參數的測量和分析。
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